一种两阶段弱监督织物瑕疵检测方法

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一种两阶段弱监督织物瑕疵检测方法
申请号:CN202510424819
申请日期:2025-04-07
公开号:CN120278987A
公开日期:2025-07-08
类型:发明专利
摘要
本发明涉及织物瑕疵检测技术领域,公开了一种两阶段弱监督织物瑕疵检测方法,包括对采集到的原始图像预处理后通过VGG9网络提取特征,应用Grad‑CAM算法获得类判别定位图再依次进行归一化、图像拼接、阈值处理和上采样操作后,获得与原始图像尺寸相同的类判别掩膜矩阵B,由离线训练好的Tiny U‑net网络对类判别掩膜矩阵B进一步精细化处理生成瑕疵预测候选掩膜,输出带有瑕疵位置和种类的织物瑕疵检测图片。本发明引入Tiny U‑Net优化瑕疵掩膜,实现精准定位,在保持较低的人工标注和计算成本的同时,显著提升定位的精准度。
技术关键词
织物瑕疵检测方法 掩膜矩阵 掩膜数据 两阶段 图像拼接 网络 离线 优化器 元素 算法 图片 训练集 像素 样本 分辨率