基于以太网传输的自动化测试设备及芯片测试方法
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基于以太网传输的自动化测试设备及芯片测试方法
申请号:
CN202510434869
申请日期:
2025-04-08
公开号:
CN120405373A
公开日期:
2025-08-01
类型:
发明专利
摘要
本发明公开了一种基于以太网传输的自动化测试设备及芯片测试方法,该设备包括:主控模块、多个扩展FPGA模块、DMA通信模块和以太网传输模块;其中,主控模块由ARM处理器与FPGA的ZYNQ芯片集成;多个扩展FPGA模块与主控模块构成分布式处理架构;DMA通信模块用于实现主控模块与各扩展FPGA模块间不低于600MByte/s的数据传输;以太网传输模块,内置CRC校验与数据重传机制,用于发送测试命令给扩展FPGA模块。通过对设备模块扩展和架设以太网,提高自动化检测的效率。
技术关键词
自动化测试设备
芯片测试方法
主控模块
数据重传机制
传输模块
协议状态机
通信模块
菊花链拓扑结构
ZYNQ芯片
双缓冲机制
时分复用方式
传感器专用
抢占式调度
硬件看门狗
SPI协议
环形缓冲区
交织技术
传感器芯片