一种用于微流控微滴阵列荧光比例信息统计的方法及装置

本申请公开了一种用于微流控微滴阵列荧光比例信息统计的方法及装置，涉及荧光强度识别分类分析技术领域，该方法包括：获取芯片的荧光场图像和明场图像；对所述明场图像进行分析，得到符合预设尺寸范围内的微滴总数；对所述荧光场图像进行分析，得到符合预设尺寸范围内的发荧光微滴的总数；基于所述符合预设尺寸范围内的微滴总数和所述符合预设尺寸范围内的发荧光微滴的总数，计算得出发荧光微滴的比例。本申请可解决现有技术在发荧光微滴和未发荧光微滴混淆，荧光微滴分析中存在的异常微滴混入统计等问题。