设备自动测试方法、装置、电子设备及可读存储介质

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设备自动测试方法、装置、电子设备及可读存储介质
申请号:CN202510447353
申请日期:2025-04-10
公开号:CN120321700A
公开日期:2025-07-15
类型:发明专利
摘要
本发明提出的一种设备自动测试方法、装置、电子设备及可读存储介质,方法包括步骤:控制机械臂将待测设备放入第一测试治具中进行测试;获取待测设备的第一测试结果,并判断第一测试结果是否为异常;若第一测试结果为异常,则控制机械臂将待测设备移动至第二测试治具中进行测试;获取待测设备的第二测试结果,并根据第二测试结果确定待测设备的目标测试结果,其中第二测试结果为第二测试治具输出的测试结果。在出现待测设备的测试结果为异常时,通过另一测试治具来对其进行在此测试,从而能够尽可能地消除测试治具本身所带来的测试结果的偏差,进而实现更为准确的测试结果的确定;同时,无需人工干预复测,提高了测试效率。
技术关键词
设备自动测试方法 待测设备 自动测试装置 控制终端 电子设备 机械臂 可读存储介质 控制模块 处理器 良率 工位 存储器 计算机 偏差