一种用于芯片测试的芯片上料设备

本发明涉及芯片测试技术领域，具体涉及一种用于芯片测试的芯片上料设备；包括取料机构、晶圆盒、上料扩膜台、工作台、扩膜旋转电机、扩膜升降电机、通孔、多个扩膜升降螺纹套、扩膜升降板、扩膜放置台、C形卡槽、上料支架、上料电缸丝杆、上料放置板、上料夹爪电缸丝杆、上料夹爪板、上料夹爪机构、托起台、顶针机构、Y向移动机构、X向移动机构和托起架，扩膜升降螺纹套内螺纹设置有扩膜升降螺杆，通过上料夹爪机构可适应不同尺寸和形状的芯片抓取；而顶针机构、Y向移动机构和X向移动机构相互配合，能实现芯片在多个方向上的灵活移动和定位，而取料机构呈上下两层交替运动，可适应不同取料需求。