一种高可靠高密度混合集成封装结构

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一种高可靠高密度混合集成封装结构
申请号:CN202510465673
申请日期:2025-04-15
公开号:CN120149267A
公开日期:2025-06-13
类型:发明专利
摘要
本发明涉及集成电路混合集成电路封装技术领域,尤其涉及一种高可靠高密度混合集成封装结构,所述封装结构由陶瓷基体、芯片、无源器件、金属环框和盖板,陶瓷基体、金属环框和盖板组成气密性腔体;所述陶瓷基体为立方体结构,除底部外的正面或侧面用于安装芯片或无源器件,所述金属环框置于陶瓷基体正面或侧面包围芯片或无源器件,所述盖板置于金属环框之上并实现气密封装。本发明的高可靠高密度混合集成封装结构具有高性能、高可靠、高密度、小型化、性能稳定、使用寿命长的优点。
技术关键词
混合集成封装结构 金属环 高密度 气密性腔体 基体 立方体结构 电气互连 无源器件 芯片 混合集成电路 氮化铝陶瓷 氧化铝陶瓷 正面 元器件 高性能 导电 通孔
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