一种基于统计过程控制的数控加工质量监控方法及系统

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一种基于统计过程控制的数控加工质量监控方法及系统
申请号:CN202510476521
申请日期:2025-04-16
公开号:CN120370859A
公开日期:2025-07-25
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于统计过程控制的数控加工质量监控方法及系统,它涉及智能制造与质量控制技术领域。包括以下步骤:1、多模态数据协同感知与动态控制图生成;2、刀补和质量关联的联邦学习优化;3、混合增强的质量控制分析;4、因果推理驱动的异常溯源;5、数字孪生闭环验证。本发明通过多模态协同感知、联邦学习优化和数字孪生闭环验证,实现了数控加工质量监控的异常响应速度提升、补偿精度提高、新刀具适配样本量减少,最终使产品合格率达99.5%以上,综合质量成本降低42%。
技术关键词
监控方法 数字孪生 激光诱导击穿光谱 深度置信网络 闭环 切削力传感器 动态关联模型 联邦学习技术 多模态协同 SVR算法 声发射传感器 SVR模型 机床 区块链存证 分析模块 深度神经网络 数据 粒子群算法