应用程序缺陷判断方法、装置、设备及存储介质
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应用程序缺陷判断方法、装置、设备及存储介质
申请号:
CN202510508986
申请日期:
2025-04-22
公开号:
CN120670271A
公开日期:
2025-09-19
类型:
发明专利
摘要
本申请涉及软件测试技术领域,公开了一种应用程序缺陷判断方法、装置、设备及存储介质,包括:获取对目标应用程序执行目标操作前后所抓取到的GUI数据;将目标提示语和GUI数据输入至大语言模型,利用大语言模型对目标应用程序的功能是否正常进行推理判断,得到推理判断结果。本申请向大语言模型输入提示语,使得大语言模型可以在应用程序测试中自动推理判断应用程序的异常,提高了应用程序测试的缺陷发现率,弥补了现有技术对非崩溃缺陷漏检的技术空白,扩大了测试覆盖率,且有效降低了测试成本,提高了测试可靠性。
技术关键词
缺陷判断方法
大语言模型
缺陷判断装置
应用程序测试
测试工具
计算机设备
软件测试技术
生成训练数据
指令
测试覆盖率
可读存储介质
数据获取模块
页面
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策略
控件
处理器
脚本