一种多光谱成像的色母粒杂质与分散性智能检测方法

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一种多光谱成像的色母粒杂质与分散性智能检测方法
申请号:CN202510532824
申请日期:2025-04-25
公开号:CN120253694A
公开日期:2025-07-04
类型:发明专利
摘要
本发明涉及杂质检测技术领域,具体地说,涉及一种多光谱成像的色母粒杂质与分散性智能检测方法。其包括以下步骤:通过采集当前时段粒内标记报废信号数量,在报废信号数量大于报废临界值时,同步融汇多个杂质类型建立类型权重,键出权重高于标准值的杂质类型,根据用于反映杂质类型与生产步骤映射关系的杂质追溯模型输出生产步骤反馈至工作人员,有利于在生产时减小杂质的产生,提高色母粒生产质量,本发明在报废信号数量小于报废临界值时,在图像数据中划分当前时段粒的层级,在输出逐渐增加信号,输出生产步骤反馈至工作人员,避免杂质呈增长趋势时,能提前预警工作人员,避免在造成大量报废后在通知造成资源浪费。
技术关键词
智能检测方法 色母粒 多光谱成像 信号 层级 图像 光谱成像仪 时间段 杂质检测技术 边缘提取算法 线性回归模型 枝节 数据 存储算法 关键词 关系 对准标记 机械臂