一种亚微米颗粒碰撞耗散系数测量方法

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一种亚微米颗粒碰撞耗散系数测量方法
申请号:CN202510561594
申请日期:2025-04-30
公开号:CN120427465A
公开日期:2025-08-05
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种亚微米颗粒碰撞耗散系数测量方法,包括:步骤S1:得到微米颗粒‑靶面的碰撞耗散系数ηn,I‑W;步骤S2:利用微米颗粒撞击覆盖了一层亚微米颗粒的靶面,测量得到第一碰撞恢复系数,并基于离散元方法进一步得到亚微米颗粒‑靶面的碰撞耗散系数;步骤S3:设置微米颗粒‑亚微米颗粒,以及亚微米颗粒‑微米颗粒的碰撞耗散系数;步骤S4:利用微米颗粒撞击覆盖了双层亚微米颗粒的靶面,得到亚微米颗粒‑亚微米颗粒的碰撞耗散系数;步骤S5:利用微米颗粒撞击覆盖了三层亚微米颗粒的靶面,对得到的所有碰撞耗散系数进行验证。与现有技术相比,本发明将亚微米级颗粒碰撞待定参数转换为颗粒层内待定参数进行确定,从而实现了亚微米颗粒碰撞耗散系数的测量,能够测量0.1‑1μm直径的亚微米颗粒,不受颗粒材料限制。
技术关键词
亚微米 系数测量方法 离散化模型 颗粒间 颗粒材料 程序 存储器 处理器 参数 单层