低功耗设计的验证方法、终端设备及存储介质

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低功耗设计的验证方法、终端设备及存储介质
申请号:CN202510564829
申请日期:2025-04-29
公开号:CN120493859A
公开日期:2025-08-15
类型:发明专利
摘要
本申请适用于数字芯片验证技术领域,提供了一种低功耗设计的验证方法、终端设备及存储介质,包括:在数字芯片运行之前,加载第一文件和第二文件,其中,第一文件中采用第一语言描述数字芯片中第一逻辑单元的功能;第二文件中采用第二语言描述第一逻辑单元的功能;验证第一文件和第二文件中对第一逻辑单元的功能描述的一致性,得到第一验证结果;根据第一验证结果确定数字芯片的功能。上述方法可以提高数字芯片低功耗功能设计的验证效率,降低验证成本。
技术关键词
验证方法 低功耗 逻辑 芯片验证技术 终端设备 可读存储介质 处理器 存储器 计算机 端口 报告