一种芯片测试方法、装置、电子设备及介质

本申请提供了一种芯片测试方法、装置、电子设备及介质，其中，该方法包括：获取用于表征露采集器的表面现象变化的差值序列，差值序列包括在连续多个采集时刻下的亮度差值，露采集器被设置在芯片卡盘的表面上，露采集器包括透明玻璃区域和毛玻璃区域，每个亮度差值指示在对应的一采集时刻下，透明玻璃区域的亮度值与毛玻璃区域的亮度值的差值；对差值序列中的多个亮度差值进行识别，以确定是否触发连续亮度差值异常规则；如果连续亮度差值异常规则被触发，则确定结露现象发生，并记录结露时刻对应的结露工艺参数。通过本申请，实现了对芯片结露现象的精准判断，并能够准确获取结露发生时的工艺参数。