摘要
本发明公开了一种图像分割方法、装置、电子设备及存储介质,该方法包括:获取第一图像,第一图像为通过对半导体进行射线照射后所对应得到的图像;获取第一图像分割模型,第一图像分割模型是通过对第二图像分割模型进行预先训练得到;图像分割模型包括注意力特征融合模块和平均池化模块,注意力特征融合模块用于将第一卷积层的输出与第二卷积层的输出进行特征融合后作为第三卷积层的输入;平均池化模块用于将第四卷积层的输出进行多尺度特征提取后提供给第五卷积层进行输入;通过第一图像分割模型对第一图像进行分割处理,得到对应的图像分割结果。本方案可提升图像分割模型对图像进行分割的精准性,能够较好应对缺陷检测任务中的各种复杂问题。