基于LMC工艺的塑料基材表面镀膜缺陷检测方法

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基于LMC工艺的塑料基材表面镀膜缺陷检测方法
申请号:CN202510597978
申请日期:2025-05-09
公开号:CN120525952B
公开日期:2025-11-11
类型:发明专利
摘要
本申请涉及镀膜缺陷视觉检测技术领域,具体涉及基于LMC工艺的塑料基材表面镀膜缺陷检测方法,包括:获取塑料基材表面镀膜的膜层形貌灰度图像,构建各像素点的凹坑方向差异度,得到各像素点的凹坑边裂特征值,进而获取各像素点的凹坑特征值,对疑似凹陷特征点进行提取,结合各像素点与疑似凹陷特征点之间的位置关系得到各像素点的凹坑密集显著度,利用四元傅里叶显著性检测算法获取膜层凹坑显著图,经图像分割得到镀膜凹坑缺陷的区域。本申请可提高镀膜缺陷的检测精度。
技术关键词
像素点 塑料基材表面 缺陷检测方法 凹陷特征 显著性检测算法 特征值 镀膜 凹坑缺陷 复杂度 密集特征 分水岭分割算法 纹理 缺陷视觉检测 图像分割 边缘检测算法 邻域 幅值