一种基于FPGA的专用芯片实时性评估方法

本发明涉及专用芯片的实时内核性能测试技术领域，具体是一种基于FPGA的专用芯片实时性评估方法，包括（1）针对ASIC芯片上的实时系统，通过硬件中断控制器设置外部中断源和中断服务程序；（2）创建两个同优先级任务，利用时间片轮转实现任务的调度，模拟真实动态负载场景；（3）配置外部FPGA产生方波信号触发ASIC芯片的外部中断，并接收反馈信号，通过外部物理连线连接FPGA和GPIO形成硬件中断触发‑响应闭环；（4）通过FPGA内置的计数器实现纳秒级时间戳捕获，获取时延数据并计算中断响应时间，通过UART传输到PC上位机计算测试数据的最大值、最小值、平均值及数据抖动范围。本方法能有效解决传统内部闭环测试无法反映真实中断随机性和动态负载的问题。