一种铁电存储器的高低温辐照测试系统

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一种铁电存储器的高低温辐照测试系统
申请号:CN202510634513
申请日期:2025-05-16
公开号:CN120690274A
公开日期:2025-09-23
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种铁电存储器的高低温辐照测试系统,包括辐射源、测试母板、测试子板、高低温试验箱、系统电源和上位机;测试子板用于固定待测存储器,测量待测存储器在测试过程中的温度、辐射参数;测试母板用于根据上位机的指令对待测存储器进行读写操作,读取测试子板测量的温度、辐射参数并传输至上位机;上位机用于设置待测存储器的读写模式,实时监测待测存储器的温度、辐射参数和电参数,并与预置数据进行比对分析,记录测试过程中待测存储器的失效信息;辐射源用于模拟空间中的辐照环境;高低温试验箱用于模拟太空中的温度环境。本发明解决了如何在地面模拟铁电存储器在空间环境中多物理场耦合下的器件服役行为和失效机理研究的问题。
技术关键词
测试母板 高低温试验箱 子板 辐射源 辐射传感器 系统电源 模拟铁电存储器 数据记录模块 铅屏蔽 温度传感器 测试模块 FPC软板 参数 电路器件 主控芯片 射线源 指令