一种抗提离干扰的容器壁圆孔腐蚀缺陷漏磁检测量化方法

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一种抗提离干扰的容器壁圆孔腐蚀缺陷漏磁检测量化方法
申请号:CN202510634920
申请日期:2025-05-16
公开号:CN120703211A
公开日期:2025-09-26
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种抗提离干扰的容器壁圆孔腐蚀缺陷漏磁检测量化方法,包括以下步骤;步骤一:建立漏磁检测有限元模型,确定漏磁信号和提离值及缺陷尺寸的定量关系;步骤二:搭建基于缺陷尺寸的漏磁无损检测实验系统,用于得到试件的容器圆孔漏磁检测信号;步骤三:对所述漏磁无损检测实验系统检出漏磁检测信号提取特征参数并分析;步骤四:计算缺陷尺寸,将步骤三中得到的特征参数带入到步骤一建立的特征参数与缺陷尺寸之间的定量关系中,计算出缺陷尺寸。本发明有效消除了提离值对检测结果的干扰,能够通过检测信号准确获取缺陷的尺寸参数,从而提高了漏磁检测技术在容器缺陷评估中的准确性和可靠性。
技术关键词
缺陷尺寸 容器壁 漏磁检测信号 三维有限元模型 漏磁无损检测 数据采集装置 磁场传感器 磁传感器 检测传感器 漏磁信号 分析缺陷 有限元仿真模拟 关系 信号发生器 检测磁场强度 功率放大器 线圈 采集卡