一种矩阵可控开关故障自检与寿命预测系统及工作方法

本发明公开了一种矩阵可控开关故障自检与寿命预测系统及工作方法，属于矩阵开关非侵入式测试领域，包括由矩阵开关单元、待测电路组件以及功能测试单元组成的测试模块、非侵入式矩阵自检模块以及寿命预测与数据记录模块；其中，矩阵开关单元包含个矩阵开关，为待测电路组件的测试点总数，为功能测试单元接入测试点的总数，为共用列线数；矩阵开关单元与非侵入式矩阵自检模块相连；非侵入式矩阵自检模块与寿命预测与数据记录模块相连。采用上述一种矩阵可控开关故障自检与寿命预测系统及工作方法，通过非侵入式自检、矩阵优化、智能预测模型和精准故障定位，实现了电路组件测试的高效性、安全性与智能化。