基于高光谱技术的地表基质传感器及监测方法

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基于高光谱技术的地表基质传感器及监测方法
申请号:CN202510663470
申请日期:2025-05-22
公开号:CN120177389B
公开日期:2025-10-10
类型:发明专利
摘要
本申请提供了一种基于高光谱技术的地表基质传感器及监测方法,包括:传感器模块,用于经所述壳体延伸至所述地层中;高光谱模块,经壳体延伸至所述地层中;通信模块,分别与传感器模块和高光谱模块通信连接;终端模块,与所述通信模块通信连接,存储有多个的高光谱曲线特征与地表基质理化性质参数(水分、盐分、温度、酸碱性(pH)、氧化还原电位(Eh)等)对应的关联关系,每个所述关联关系对应一个预设地域类型;所述终端模块获取所述高光谱模块测量的高光谱信息;所述终端模块根据地层对应的地域类型确定所述地层对应的关联关系;所述终端模块根据所述高光谱信息、所述关联关系和所述地表基质理化性质参数完成对所述地层的地表基质监测。
技术关键词
终端模块 高光谱技术 光谱曲线特征 传感器模块 镜头 传感器监测 光纤模块 通信模块 参数 关系 机器学习算法 监测方法 反演模型 反光镜 芯片 模块通信 深度置信网络 凸透镜 探针