RRAM的测试方法、装置及系统

本申请提供一种RRAM的测试方法、装置及系统。其中，该RRAM的测试方法，用于测试板；该测试板包含按照B行和W列排列的忆阻器阵列、以及FPGA。该方法包括：上位机显示RRAM的当前测试的参数设置界面；所述参数设置界面显示的待输入参数；接收针对所述待输入参数输入的参数数据以及用户输入的待测试忆阻器的地址，生成并发送上位机指令；所述待测试忆阻器为所述忆阻器阵列中的一个或者多个忆阻器；FPGA按照所述上位机和FPGA约定的寄存器协议，根据接收到所述上位机指令，产生所述待测试忆阻器的地址的驱动信号；将所述驱动信号给所述待测试忆阻器；接收所述待测试忆阻器的回流信号，进行当前测试。