一种基于三维结构孔隙率的珍珠母质量无损评价方法

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一种基于三维结构孔隙率的珍珠母质量无损评价方法
申请号:CN202510667678
申请日期:2025-05-23
公开号:CN120195198B
公开日期:2025-08-26
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种基于三维结构孔隙率的珍珠母质量无损评价方法,涉及中药材珍珠母无损显微鉴定技术领域,该方法包括采用明煅法在多种煅制温度下分别煅烧珍珠母生品,得到多个不同炮制程度的炮制品;分别对珍珠母生品和各个炮制品进行显微CT扫描,得到若干投影图;根据若干投影图,采用相位恢复算法和迭代重建算法进行三维图像重建,生成三维数据;根据三维数据,采用图像分割算法进行孔隙分割,计算得到珍珠母生品和各个炮制品的孔隙率;根据珍珠母生品和各个炮制品的孔隙率,结合孔隙率、煅制温度和样品质量的关系,确定珍珠母生品和各个炮制品的质量等级。本申请可以实现珍珠母质量无损评价,并提升珍珠母质量评价的准确性。
技术关键词
无损评价方法 三维结构 相位恢复算法 制品 显微CT系统 图像分割算法 CT扫描参数 迭代重建算法 Otsu算法 X射线探测器 深度学习模型 图像重建 单色仪 滤波片 数据 噪声滤波 X射线源 试样台 煅烧