一种烤箱智能定时器用芯片检测分选设备及其工艺

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一种烤箱智能定时器用芯片检测分选设备及其工艺
申请号:CN202510668381
申请日期:2025-05-23
公开号:CN120421237A
公开日期:2025-08-05
类型:发明专利
摘要
本发明涉及自动化检测设备技术领域,尤其涉及一种烤箱智能定时器用芯片检测分选设备及其工艺,包括设备箱体和盛放芯片的料盘,设备箱体的底端配合设置有多个稳定柱脚和万向轮;设备箱体上设置有检测旋转平台和分选旋转平台,检测旋转平台的外端设置有芯片上料装置和芯片移栽装置;设备箱体上设置有芯片上表面缺陷检测装置、芯片下表面缺陷检测装置和检测孔;检测旋转平台和分选旋转平台之间设置有抓取机械手,分选旋转平台的侧端设置有料盘供应装置;设备箱体上还设置有料盘移栽装置、不合格芯片料盘放置工位和合格芯片料盘放置工位;该发明通过高度集成化设计,实现芯片检测与分选的全流程自动化,显著提升生产效率与检测精度。
技术关键词
表面缺陷检测装置 智能定时器 旋转平台 检测分选设备 芯片料盘 设备箱体 芯片上料装置 真空吸盘组件 托架导轨 移栽装置 检测相机 推杆组件 供应装置 料盘移栽 料盘抓取机构 烤箱 竖板 安装块