一种高压电缆半导电屏蔽层表面缺陷评估方法

本发明涉及电数字数据处理技术领域，提出一种高压电缆半导电屏蔽层表面缺陷评估方法，包括以下步骤：S1.获取屏蔽层表面缺陷形貌特征；S2.基于缺陷形貌特征，构建有限元模型，并执行仿真模拟计算；S3.基于仿真模拟计算结果，构建标准化响应映射数据集；S4.基于标准化响应映射据集，构建神经网络模型并执行迭代训练；S5.基于缺陷轮廓的几何形状进行有限元仿真，从而验证神经网络模型的准确性；本发明能够实现高通量预测目标电缆半导电屏蔽层表面缺陷造成的电场畸变，以评估对绝缘系统的影响。并且本发明预测评估速度远超传统仿真，对于未训练的缺陷预测也能表现出较高的精度。