摘要
本发明公开了一种平面近远场变换材料复介电常数的测量方法及系统,其中方法包括:将待测样品放置待测天线测试频段的近场位置,背后放置金属背板;基于平面近场法对材料进行近场反射参数采样,得到S11参数;根据测试得到的反射系数数据做时域窗滤波提出有效反射信号,并对处理得到的数据做平面近远场变换处理,得到对应的远场反射系数数据;基于反射法介电常数求解对远场反射系数数据进行求解,得到材料的复介电常数。本发明可高效解决利用自由空间远场反射法在测量电大尺寸材料情况下测试距离过远成本过大的局限性,降低对测试环境的空间大小和测试样品尺寸的约束。