基于神经网络的IGBT器件老化状态评估方法、装置、设备及介质
申请号:CN202510720967
申请日期:2025-05-30
公开号:CN120652243A
公开日期:2025-09-16
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于神经网络的IGBT器件老化状态评估方法、装置、设备及介质,属于IGBT器件检测的技术领域,所述方法为:获取处于健康状态的IGBT器件的训练参数,所述训练参数包括IGBT器件在不同结温下的导通压降和集电极电流;采用所述训练参数对预设的PyTorch神经网络模型进行模型训练,得到状态评估模型,其中,所述预设的PyTorch神经网络模型是全连接的神经网络模型;调用所述状态评估模型评估待识别IGBT器件的老化状态。本发明通过IGBT器件的不同参数进行模型训练,以贴合IGBT器件的实际场景,减少评估的误差,大大提升模型的评估精度,以满足现有的检测需求。
技术关键词
IGBT器件
状态评估方法
器件老化
神经网络模型
计算机可执行程序
参数
损失率
状态评估装置
可读存储介质
曲线
电流
预测误差
处理器
调度器
数值
优化器
结温
存储器