一种MOS器件寿命预测方法、系统和电子设备

本发明涉及集成电路可靠性技术领域，公开了一种MOS器件寿命预测方法、系统和电子设备，其中，一种MOS器件寿命预测方法包括：构建连续时间动力学模型，表达MOS器件退化过程；构建器件关系图结构，捕捉器件间空间相关性；执行多时间尺度分解，解析器件退化的时序特性；应用自适应数值求解算法，实现退化轨迹预测；实施物理约束正则化，提升模型的物理合理性。本发明通过融合图神经微分方程与多时间尺度分解技术，解决了现有技术中离散时间建模不足、器件间协同效应忽略、多尺度特性处理困难等问题，实现了对MOS器件寿命的高精度预测。