芯片回归测试通过率处理方法、电子设备和介质

本发明涉及芯片技术领域，尤其涉及一种芯片回归测试通过率处理方法、电子设备和介质，方法包括：步骤S1、获取测试用例tx对应的运行日志信息和测试用例配置信息；步骤S2、确定tx每一次的运行结果{td1x,td2x,....,tdayx,...,tdp(x)x}；步骤S3、基于{td1x,td2x,....,tdayx,...,tdp(x)x}确定tx对应的综合运行结果tdx和循环成功率DLPx；步骤S4、基于每一tx对应的综合运行结果tdx、配置信息确定每一待测芯片设计的通过率、待测芯片设计配置的通过率和功能特征的通过率。本发明实现了全方位快速准确地获取芯片回归测试的通过率。