一种金属硬掩膜层的刻蚀方法

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一种金属硬掩膜层的刻蚀方法
申请号:CN202510764198
申请日期:2025-06-09
公开号:CN120767202A
公开日期:2025-10-10
类型:发明专利
摘要
本发明提供了一种金属硬掩膜层的刻蚀方法,该方法包括:提供预设基底;其中,预设基底包括自上向下依次形成的图案化后的光阻层、抗反射层和金属硬掩膜层,抗反射层包括有机抗反射层;重融步骤,向腔室中通入含氩气体刻蚀光阻层使光阻层进行重融;修复步骤,向腔室中通入光阻层的修复气体对光阻层的边缘形貌进行修饰;有机抗反射层刻蚀步,控制射频电源的功率施加方式为脉冲模式,向腔室中通入含氟气体,以图案化后的光阻层为掩膜对有机抗反射层进行刻蚀,直至显露出下一膜层;硬掩膜刻蚀步,向腔室中通入含氯气体刻蚀暴露出的金属硬掩膜层,直至显露出下一膜层。本发明可以有效改善金属硬掩模刻蚀后的线宽粗糙度,提升了芯片的稳定性。
技术关键词
金属硬掩膜层 硬掩膜刻蚀 金属硬掩模 刻蚀方法 射频电源 气体 线宽粗糙度 介质 氯气 基底 脉冲 模式 连续波 功率 聚合物 芯片