摘要
本发明涉及芯片测试技术领域，公开了一种LED驱动芯片的测试方法、装置、设备及存储介质，该方法包括：对LED驱动芯片进行多点温度激励和恒流输出同步采集，得到电热耦合测试数据；对芯片内部温度场进行热阻网络分解，得到温度分布特征参数；对温度‑恒流耦合关系进行非线性函数拟合，得到电热耦合传递系数；对温度分布特征参数和电热耦合传递系数进行四维耦合计算，得到四维耦合响应特征数据；基于四维耦合响应特征数据进行偏微分敏感度计算，得到电热耦合敏感度分析结果，本发明解决了传统分离式温度‑电流测试中时间不同步导致的测试误差问题，实现了对电热耦合参数的定量化敏感度分析，进而提高了LED驱动芯片的测试的准确率。
