摘要
本发明公开了一种基于智能传感器的半导体元件检查装置,涉及半导体元件检测技术领域。该基于智能传感器的半导体元件检查装置,包括主体,主体的内部转动连接有转盘,主体的顶部固定连接有固定环;转盘的外侧固定连接有球形凸块,固定环的内部固定连接有环形液压块,环形液压块的内侧活动连接有推块一,环形液压块的后侧通过软管一与液压块一固定连接,液压块一的顶部通过活动块一活动连接有齿条一,主体的顶部固定连接有限位块,限位块的内部通过转轴一与固定块一转动连接,液压块一通过传动件与固定块三活动连接。该基于智能传感器的半导体元件检查装置,使用时启动转盘,使芯片元件放置更标准,提升设备检测效率。