一种基于智能传感器的半导体元件检查装置

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一种基于智能传感器的半导体元件检查装置
申请号:CN202510799751
申请日期:2025-06-16
公开号:CN120489957A
公开日期:2025-08-15
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于智能传感器的半导体元件检查装置,涉及半导体元件检测技术领域。该基于智能传感器的半导体元件检查装置,包括主体,主体的内部转动连接有转盘,主体的顶部固定连接有固定环;转盘的外侧固定连接有球形凸块,固定环的内部固定连接有环形液压块,环形液压块的内侧活动连接有推块一,环形液压块的后侧通过软管一与液压块一固定连接,液压块一的顶部通过活动块一活动连接有齿条一,主体的顶部固定连接有限位块,限位块的内部通过转轴一与固定块一转动连接,液压块一通过传动件与固定块三活动连接。该基于智能传感器的半导体元件检查装置,使用时启动转盘,使芯片元件放置更标准,提升设备检测效率。
技术关键词
智能传感器 显微镜检测设备 抬升设备 吸光板 收料设备 液压块 环形 传动件 翻板 转动轴 芯片元件 调节组件 球形 推板 半导体元件 齿条 凸块 滑块