一种基于太赫兹图像的缺陷识别方法、装置、终端设备及存储介质

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一种基于太赫兹图像的缺陷识别方法、装置、终端设备及存储介质
申请号:CN202510818539
申请日期:2025-06-18
公开号:CN120594442A
公开日期:2025-09-05
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于太赫兹图像的缺陷识别方法、装置、终端设备及存储介质,属于太赫兹无损检测和图像处理领域,所述方法为:获取待测样品当前分层的太赫兹光谱和动态阈值;根据所述太赫兹光谱中每一反射脉冲的反射信号幅值,将反射信号幅值大于动态阈值的反射脉冲选取为太赫兹缺陷脉冲;根据每一太赫兹缺陷脉冲的宽度确定加窗长度,根据每一太赫兹缺陷脉冲的位置确定加窗位置,基于对应的加窗长度和加窗位置进行加窗,获得太赫兹缺陷脉冲段;根据所述太赫兹缺陷脉冲段的峰峰值参数,对待测样品当前分层进行成像,获得缺陷层析影像,因此,通过实施本发明,能够解决现有技术存在的太赫兹检测在进行缺陷识别时存在准确性低的技术问题。
技术关键词
缺陷识别方法 脉冲 分层 小波阈值去噪 影像 三维层析成像系统 幅值 平面成像技术 数据获取模块 成像模块 终端设备 图像融合算法 波形 动态 飞行时间法 平稳小波 可读存储介质 扫描平台