一种电子元器件检测系统及方法

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一种电子元器件检测系统及方法
申请号:CN202510826016
申请日期:2025-06-19
公开号:CN120655989A
公开日期:2025-09-16
类型:发明专利
摘要
本申请涉及电子元器件检测领域,公开了一种电子元器件检测系统及方法,系统包括:数据采集与张量化模块,获取原始数据并转化为特征向量;跨模态特征生成与增强模块,生成缺失模态的特征张量和增强质量不佳的特征向量;多模态异构图构建与融合模块,构建异构图并生成元器件特征表示;自适应强化学习检测策略模块,将检测过程建模为马尔可夫决策过程;缺陷分析与报告模块,输出元器件的检测报告。本发明有效克服了传统单一模态检测的局限;系统能智能生成或增强数据特征,极大提升鲁棒性;实现对缺陷的深层理解与精准判断;兼顾了效率与准确性,显著提升了整体检测性能与资源利用率。
技术关键词
模态特征 电子元器件 异构 强化学习代理 节点 多模态 跨模态 模块 X射线成像仪 缺陷分析 概念 对抗性 报告 声波传感器 声波特征 数据 策略 决策
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