基于深度学习的氮化镓射频器件缺陷检测方法及系统
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基于深度学习的氮化镓射频器件缺陷检测方法及系统
申请号:
CN202510830511
申请日期:
2025-06-20
公开号:
CN120707528A
公开日期:
2025-09-26
类型:
发明专利
摘要
本发明提供基于深度学习的氮化镓射频器件缺陷检测方法及系统,涉及氮化镓器件技术领域,包括生成并预处理多光谱图像数据集;执行通道和空间双维度注意力计算并结合可变形卷积和残差连接进行特征优化;构建多尺度特征金字塔并基于特征相似度构建多层级分类树进行细粒度缺陷分类;利用深度神经网络模型评估缺陷对器件性能的影响程度。本发明能够准确识别氮化镓射频器件的缺陷位置和类型,并对缺陷的性能影响进行定量评估,提高了检测精度和效率。
技术关键词
多尺度特征金字塔
深度神经网络模型
分类阈值
射频器件
多光谱
注意力
校准特征
融合特征
氮化镓
缺陷检测方法
层级
深度映射
特征描述符
计算机程序指令
概率密度函数
可变形卷积网络
图像
sigmoid函数
电学性能参数