一种轨道位移高精度检测方法、系统、介质及电子设备

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一种轨道位移高精度检测方法、系统、介质及电子设备
申请号:CN202510837352
申请日期:2025-06-23
公开号:CN120351855A
公开日期:2025-07-22
类型:发明专利
摘要
本公开提供了一种轨道位移高精度检测方法、系统、介质及电子设备,涉及轨道测量的技术领域,包括:实时获取测量图像以及基准图像,测量图像表征为包含配置在轨道上的测量标靶的图像,基准图像表征为包含配置在预设基准平台上的基准标靶的图像,预设基准平台位于测量标靶相同位置的轨道的一侧;根据预设历史时刻和当前目标时刻得到的测量图像,确定测量标靶的第一位移量,根据预设历史时刻和当前目标时刻得到的基准图像,确定基准标靶的第二位移量;通过第二位移量校正第一位移量,得到轨道的目标位移量。本公开解决了现有技术中存在的轨道位移检测设备使用起来较为不便的问题。
技术关键词
位移高精度 标靶 基准 轨道 像素 灰度重心法 坐标 一致性算法 位移检测设备 圆心 图像处理模块 电子设备 平台 图像获取模块 可读存储介质 终端设备 感光器件 校正模块