摘要
本发明提供了一种增强芯片抗电干扰的测试筛选方法及系统，涉及半导体芯片抗电干扰技术领域，包括通过有限元分析法提取特征频率集合及其对应的空间电场分布，生成激励信号库；通过微波脉冲调控NV色心的电子自旋量子态，锁定微裂纹对应的特征谐振频点集合；根据特征谐振频点集合构建Vietoris‑Rips复形，筛选出缺陷风险指数大于0.15的高风险芯片；对高风险芯片施加动态偏置温度应力，筛选出符合标准的芯片；通过交互式训练优化激励组合权重、频段优先级及应力加载时序，最终输出自适应测试策略。本发明有益效果为实现了从信号生成、缺陷定位到策略自适应的全流程闭环控制，保障芯片长期稳定性。
