摘要
本申请涉及测试技术领域，尤其涉及一种频率设定点功能测试方法、装置、设备及介质，该方法包括：设置目标存储器采用第一频率设定工作点，将二进制数据阵列写入目标存储器内的目标存储单元；设置目标存储器采用第二频率设定工作点，读取目标存储单元内的数据，得到第一读数据，以及将二进制数据阵列写入存储单元；设置目标存储器采用第一频率设定工作点，再次读取目标存储单元内的数据，得到第二读数据；根据第一读数据、第二读数据以及预设的期望读数据确定测试结果。由此，本申请可以解决对存储芯片中频率设定点功能测试方法速度慢、时效差的问题。
