一种缺陷检测模型动态优化方法及装置、介质、设备

本发明涉及模型优化技术领域，具体为一种缺陷检测模型动态优化方法及装置、介质、设备，一种缺陷检测模型动态优化方法，包括以下步骤：获取芯片缺陷图像像素组块并构建响应通道结构，提取排序与聚合差异归类响应分布，识别交界过渡区判定特征交叉，筛取连续路径判断节点趋势一致性，划分响应维持状态制定训练轨迹调整依据。本发明中，通过对芯片缺陷图像进行像素级响应数据的提取与分区响应结构构建，对特征交叉情况形成针对性的结构刻画，利用路径节点迁移趋势与响应轨迹变化一致性，显著提升模型对多变样本响应形态的适应度与特征判别效率，解决静态响应表征方式在高复杂缺陷形态下适应性不足的痛点，强化模型泛化稳定性。