用于涂层下金属早期缺陷的太赫兹无损检测装置及方法

本发明提供一种用于涂层下金属早期缺陷的太赫兹无损检测装置及方法，所述装置包括太赫兹源模块、探测器模块、三维移动平台、防护组件和检测模块；太赫兹源模块分别与探测器模块、检测模块连接，防护组件、待测试样品均设置在三维移动平台上，防护组件与待测试样品之间具有一定距离；探测器模块设置三维移动平台上方；检测模块与探测器模块连接；通过本发明所述一种用于涂层下金属早期缺陷的太赫兹无损检测装置及方法，能够优化装置的结构，提升装置对涂层下金属早期缺陷检测的精准度，保障检测安全性，实现目视检查涂层表观无缺陷，但腐蚀介质已透过涂层达到金属底材界面的早期缺陷诊断，实现无损、高效地对有机涂层下金属底材的状态进行检测。