LDPC解码能力测试应用方法、装置、存储设备、存储介质和程序产品

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LDPC解码能力测试应用方法、装置、存储设备、存储介质和程序产品
申请号:CN202510845205
申请日期:2025-06-23
公开号:CN120708688A
公开日期:2025-09-26
类型:发明专利
摘要
本发明实施例提出一种LDPC解码能力测试应用方法、装置、存储设备、存储介质和程序产品,涉及存储技术领域。该方法启用主控芯片的LDPC解码功能后对存储介质进行读操作,得到多个失效比特数对应的解码失败概率,能够体现主控芯片针对不同失效比特数场景下的解码能力表现。并通过测试平台直接对存储介质进行读操作,获取多个失效比特数对应的数据量占比,能够反映存储介质在不经过解码纠正的情况下的原始错误分布特性。最后通过对存储介质的原始错误分布特性和主控芯片解码性能的量化对比分析,确保不同主控芯片对不同码率的存储介质的LDPC解码能力评估的科学性和可靠性,从而为项目决策提供坚实的技术依据和明确的判断标准。
技术关键词
比特数 主控芯片 LDPC解码 存储设备 软解码 解码功能 测试平台 存储介质上读取 解码信息 闪存芯片 存储块 存储技术 程序 数据 可读存储介质 码率 决策 项目 模块