一种晶圆结构、金属层刻蚀掩模版以及晶圆背面磨片方法

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一种晶圆结构、金属层刻蚀掩模版以及晶圆背面磨片方法
申请号:CN202510845248
申请日期:2025-06-23
公开号:CN120669468A
公开日期:2025-09-19
类型:发明专利
摘要
本申请提供一种晶圆结构、晶圆金属层刻蚀掩模版及背面磨片方法。掩模版分区设计包括:有效区含阵列第一掩模窗口,形成芯片功能金属互联;无效区含第二掩模窗口并沿有效区延伸线排布,窗口边框构成隔离带。基于此形成的晶圆结构金属层包含:有效区阵列第一金属层单元,无效区环形第二金属层单元及其间隔离带。该设计通过消除正面台阶差,为背面研磨提供均匀应力基体,显著降低研磨翘曲;隔离带精确对准切割道,规避切割毛刺、崩边及短路风险。
技术关键词
磨片方法 掩模 晶圆结构 隔离带 模版 晶圆背面 金属互联结构 结构金属层 芯片 环形阵列 分区 短路 基体 台阶 应力 风险 正面