一种绝缘子的寿命评估模型构建方法、装置、终端设备及寿命评估方法
申请号:CN202510848003
申请日期:2025-06-24
公开号:CN120745393A
公开日期:2025-10-03
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种绝缘子的寿命评估模型构建方法、装置、终端设备及寿命评估方法,属于绝缘子检测领域,所述方法为:以运行年限为划分依据,将获取到的绝缘子样本数据总集划分为若干绝缘子样本数据子集;计算各特征类型的线性判别系数;将满足预设筛选条件的线性判别系数对应的特征类型作为老化特征类型;将绝缘子样本数据总集中对应于老化特征类型的老化特征样本数据整合成绝缘子老化样本训练集;根据所述绝缘子老化样本训练集,对预设的神经网络模型进行迭代训练,并将训练完成的神经网络模型作为寿命评估模型。通过实施本申请,能够解决现有技术因用于模型训练的特征数据繁杂冗余,导致构建的寿命评估模型预测精度较低的问题。
技术关键词
神经网络模型
绝缘子
评估模型构建方法
老化特征
样本
寿命评估方法
训练集
模型构建装置
优化网络参数
线性
数据分布
数据获取模块
剩余寿命评估
指标
终端设备