一种碳化硅MOSFET器件、制造方法和芯片

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一种碳化硅MOSFET器件、制造方法和芯片
申请号:CN202510858871
申请日期:2025-06-25
公开号:CN120857560A
公开日期:2025-10-28
类型:发明专利
摘要
本发明实施例提供了一种碳化硅MOSFET器件、制造方法和芯片,包括N+型衬底;外延层;电流扩展层,电流扩展层具有第一沟槽和第二沟槽,第二沟槽位于第一沟槽的底部,且第二沟槽底部的宽度小于第一沟槽底部的宽度;P型基区,设于电流扩展层内;P型埋层,设于电流扩展层内,且位于第二沟槽的底部;第一沟槽和第二沟槽结合相当于一个阶梯型的沟槽,这个阶梯型的沟槽在电流扩展层内,当碳化硅MOSFET器件的源极金属通过这个阶梯型的沟槽与碳化硅接触时,可以形成肖特基二极管,肖特基二极管具有快速恢复特性,能够降低反向导通压降,并且,阶梯型的沟槽使得肖特基接触面积更大,能够更大程度的降低反向导通压降。
技术关键词
电流扩展层 层间介质层 P型埋层 牺牲氧化层 栅氧化层 外延 肖特基二极管 栅极沟槽 衬底 阶梯 碳化硅 离子 芯片