一种基于X射线的产品缺陷可视化预测方法及装置

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一种基于X射线的产品缺陷可视化预测方法及装置
申请号:CN202510860056
申请日期:2025-06-25
公开号:CN120673173A
公开日期:2025-09-19
类型:发明专利
摘要
本发明涉及机器视觉与产品缺陷可视化预测技术领域,具体涉及一种基于X射线的产品缺陷可视化预测方法及装置。本发明中,利用边缘提取和基于熵的分析来增强缺陷定位,同时解决图像噪声和非均匀强度变化的挑战,为了提高鲁棒性,采用了一种结合DBSCAN聚类的自适应阈值策略来区分缺陷和噪声。由此,本发明解决现有技术中的产品缺陷的比度低和棱边模糊的可视化预测效率低、准确性不高的问题。与传统技术相比,它增强了降噪、边缘检测和裂纹识别。通过整合X射线图像处理,该方法提高了准确性,减少了假阳性,提高了检测效率。
技术关键词
可视化预测方法 二值化图像 缺陷类别 边缘检测 X射线图像处理 校正 滤波 分布特征 灰度共生矩阵 像素点 区分缺陷 聚类 裂纹识别 参数 图像获取模块 可视化模块 算法 裁剪模块
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