芯片原材料质量状态追踪与溯源方法及系统

本发明提供芯片原材料质量状态追踪与溯源方法及系统，涉及芯片技术领域，包括通过构建原材料数字孪生模型实现质量动态监测，对质量状态进行降维优化提取时空演化特征，利用生物启发的混沌免疫优化算法构建多智能体协同溯源系统定位质量异常，并执行闭环反馈控制。本发明可提高异常检测准确性，加速溯源效率，实现原材料质量全流程智能管控。