测试电路、测试方法、芯片和电子设备

本申请涉及测试技术领域，特别涉及一种测试电路、测试方法、芯片和电子设备。测试电路包括：第一测试点、第一匹配电路、第二匹配电路、第三匹配电路、被测芯片、第一开关、第二开关、第二测试点。第一频段射频信号测试时，第一开关处于第一开关状态，第二开关处于第二开关状态，第一测试点、第一开关、第一匹配电路、被测芯片M、第二开关、第二测试点导通，形成第一测试通路。第二频段射频信号测试时，第一开关处于第三开关状态，第二开关处于第四开关状态，第一测试点、第一开关、第二匹配电路、第一匹配电路、被测芯片、第二开关、第三匹配电路、第二测试点导通，形成第二测试通路，第一频段射频信号的频率大于第二频段射频信号的频率。