芯片测试方法、芯片测试系统、存储介质及程序产品

本申请公开了一种芯片测试方法、芯片测试系统、存储介质及程序产品，芯片测试方法包括：响应于接收到的芯片测试指令，发送图像测试指令至目标图像测试装置，以使目标图像测试装置根据图像测试指令对感光芯片进行图像采集，并发送第一采集结束信号及第一图像测试结果至半导体测试设备；当接收到第一采集结束信号时，对感光芯片进行直流特性测试，得到第一直流特性测试结果；当接收到第一图像测试结果时，根据第一直流特性测试结果及第一图像测试结果生成测试报告。本方法实现了在对感光芯片进行测试的过程中，双进程并行执行直流特性测试和图像测试，有利于提高对感光芯片进行测试的测试效率。