一种面向元件几何测量的边缘数据调校方法

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一种面向元件几何测量的边缘数据调校方法
申请号:CN202510870961
申请日期:2025-06-26
公开号:CN120765502A
公开日期:2025-10-10
类型:发明专利
摘要
本发明属于计算机数字图像处理相关技术领域,具体涉及一种面向元件几何测量的边缘数据调校方法,包括:对图像中的元件边缘进行有交叠地划分,得到边缘片段集;基于有限高斯混合模型并融合小波与全变分,建立所有边缘片段对应的调校边缘最大后验估计函数,最小化该函数,对边缘片段进行独立调校,聚合调校后的各边缘片段,得到预调校边缘;将预调校边缘进行有交叠地划分,得到预调校边缘片段集;采用已得到的有限高斯混合模型融合二阶全变分正则,建立每个预调校边缘片段的理想边缘最大后验估计函数,最小化该函数,对预调校边缘片段进行独立平滑校正,聚合平滑校正后的各边缘片段,得到最终调校边缘。本发明在算法层面提高测量几何元件的精度。
技术关键词
调校方法 高斯混合模型 校正 元素 可读存储介质 数据 计算机程序产品 处理器 数值 锚点 检测元件 图像 存储器 误差 电子设备 指令 阶梯