一种优化型环形子孔径划分及拼接测量方法及系统

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一种优化型环形子孔径划分及拼接测量方法及系统
申请号:CN202510872209
申请日期:2025-06-26
公开号:CN120593655A
公开日期:2025-09-05
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种优化型环形子孔径划分及拼接测量方法及系统,通过从测量范围的边缘向内扩展环带,直至完成整体目标范围的划分;从边缘向内扩展,充分利用边缘区域的测量潜力,显著减少环带数目,降低误差累积。并采用遍历算法自动确定环带划分参数,避免手动调整,提高方法的通用性和自动化程度。经过仿真验证,该方法显著减少了环带数目,提高了检测效率,适用于大偏离高次非球面的测量,具有广泛的应用前景。
技术关键词
拼接测量方法 非球面 子孔径拼接方法 数据融合方法 环形 基准 偏差 遍历算法 误差系数 相机 光程 像素 两点 坐标系 模块 波长 光源