一种低损伤检测表层样品LIBS系统及多通道光谱自校准方法

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一种低损伤检测表层样品LIBS系统及多通道光谱自校准方法
申请号:CN202510872645
申请日期:2025-06-26
公开号:CN120522161A
公开日期:2025-08-22
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种低损伤检测表层样品LIBS系统及多通道光谱自校准方法,包括光束整形系统、三维位移样品台,采集模块、控制模块和光谱校准模块。光束整形系统采用双凸透镜组合结构,结合聚焦透镜,将激光光斑直径缩小至20μm以下,三维位移样品台由控制模块基于实时光谱反馈智能调节样品位置;采集模块预设并自动调节延时序列,控制触发激光器和多通道光谱仪采集样品光谱;光谱校准模块包括背景信号自动扣除、多通道重叠区域动态加权融合及特征峰模糊匹配校准处理功能。本发明提供的系统和自校准方法,实现了低损伤、高效率、高精度的表层样品检测,采集得到无缝、高分辨率、高信噪比的宽带光谱,显著提升了LIBS技术的分析能力和实用性。
技术关键词
多通道光谱仪 LIBS系统 光束整形系统 聚焦透镜 校准方法 激光光斑直径 激光诱导等离子体 自动延时功能 激光器 双凸透镜 样条插值算法 控制模块 准直透镜 三次样条插值 样品台 频段