一种多向自适应调节的芯片探针测试夹具

本发明公开了一种多向自适应调节的芯片探针测试夹具，涉及探针测试夹具技术领域，包括底座，且底座的顶端安装有探针测试组件。本发明通过调节机构实现对芯片方向和倾斜角度的自适应调节，以便能够支持多种类型芯片的夹持测试‌，减少夹具更换次数，降低成本与维护时间，并缩短调试时间、保证调节精准度，同时减少信号损耗，通过锁止机构实现对定齿轮A、定齿轮B的机械自锁和锁止解除，以便保证芯片倾斜角度调节和方向调节后的稳定性，且皆无需人工手动操作，自动化程度较高；通过夹持机构实现对芯片的稳定夹持，并可以在解除夹持时使芯片精准转动90°，以便自动切换测试边，显著提升测试效率，并减少人为操作误差。